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1，用万用表怎么量光耦的好坏或其他方法

用一块万用表R100档测光耦的4，5脚正反向电阻应为无穷大，如果不是光耦就是损坏或性能不好。再把黑表笔接5脚红表笔接4脚，再用另一万用表R1档，黑表笔接1脚，红表笔接2脚，利用万用表里的电池点亮光耦内发光管，这时接4.5脚万用表电降得很小，移去1.2脚表笔，4.5脚的万用表阻值马上变得无穷大，对调1.2脚表笔复接，4.5脚电阻应无穷大且不变，则光耦就是好的，如果将接1.2万用表分别拨到R10档和R100档，接4.5用阻值应有所增大，这样可进一步证明光耦好坏。

用万用表怎么量光耦的好坏或其他方法

2，求助如何测量光耦的好坏

看看今年第一期大众版，我的那篇文章能否给予你帮助呢
不同意楼上的做法,因电容充放电不好掌握,有可能击穿光偶.
如果只有一块电表也行.你用一个容量大点的电容,先用万用表给他充上电,然后用万用表检测输出两个端子,利用电容上的余电,注意正负,接在光偶输入端上,如果是好的可以看到万用表指针或数字有明显变化,当然是从导通到截止的变化.这就证明光偶是好的.
如果你有两快表就简单多了，用一块表的二极管挡测量1.2脚（相当与给1.2脚一个电压），同时用另外一块表的电阻档测量3.4脚
支持,就是用上外电(电池等的),让1,2脚工作,3,4就好办了,单测量正反电阻意义不大.对击穿的又当别论.
搂主3的方法很对.但是应测1和3有没有阻值一般只要阻值正常.光藕有90%是好的

求助如何测量光耦的好坏

3，如何检查光耦是否损坏

最简单的方法是：1、你可以在板带电的情况下，测输入驱动波形和输出驱动波形：2、如果仅有输入没有输出，那光耦肯定有问题；3、如果输入和输出波形都有，那就说明光耦没问题。4、这时可以查电源和驱动信号是否正常等等。常用检测方法：1.更换法2.电压测试法，看电压与正常值是否一样3.电阻测试法，检查各脚的对地阻值4.直观法，用眼观察光耦的外观有无破损1、光耦的输入端可以看做一个发光二极管来计算。限流20mA。输入电压减去二极管压降再除以20mA就是R1的阻值。2、R2是个纯粹的上拉电阻，只要和输出端的设备匹配并不会使光耦输出三极管电流过大即可，一般1K-100K都可以，具体选多少，要看另一段的设备需要多少电流。CTR是啥？我用了这么多年光耦没听说过，只听说过TCRT.只要你的光耦自身速度够，不用考虑。还有另外几个问题：1.更换法就是代换新的光耦型号2.电压测试一是看光耦的资料上各脚电压是多少，还有就是与正常的IC对比3.电阻与电压测试方法差不多如果是工厂测试光耦的话可以做一个测试架专名测试光耦那就省事了，就是做一个测试电路来测试光耦这是最好的测试的方法。原装的产品不良率是不会超过300PPM。
如果只是一只，这个很容易。最简单的方法是：1、你可以在板带电的情况下，测输入驱动波形和输出驱动波形：2、如果仅有输入没有输出，那光耦肯定有问题；3、如果输入和输出波形都有，那就说明光耦没问题。4、这时可以查电源和驱动信号是否正常等等。常用检测方法：1.更换法2.电压测试法，看电压与正常值是否一样3.电阻测试法，检查各脚的对地阻值4.直观法，用眼观察光耦的外观有无破损1、光耦的输入端可以看做一个发光二极管来计算。限流20ma。输入电压减去二极管压降再除以20ma就是r1的阻值。2、r2是个纯粹的上拉电阻，只要和输出端的设备匹配并不会使光耦输出三极管电流过大即可，一般1k-100k都可以，具体选多少，要看另一段的设备需要多少电流。只要你的光耦自身速度够，不用考虑。

如何检查光耦是否损坏

4，家电维修问题4脚光耦如何测量及好坏哪只输出输入等怎么解

测量：用万能表10K挡，黑表笔接一脚，红笔接二脚，表针大约偏转三分之二，然后改用1K挡任意测量应接近无穷大，如与上述相差较大，多半有问题解决：进行更换光耦：光耦合器（opticalcoupler，英文缩写为OC）亦称光电隔离器或光电耦合器，简称光耦。它是以光为媒介来传输电信号的器件，通常把发光器（红外线发光二极管LED）与受光器（光敏半导体管）封装在同一管壳内。[1]当输入端加电信号时发光器发出光线，受光器接受光线之后就产生光电流，从输出端流出，从而实现了“电—光—电”转换。以光为媒介把输入端信号耦合到输出端的光电耦合器，由于它具有体积小、寿命长、无触点，抗干扰能力强，输出和输入之间绝缘，单向传输信号等优点，在数字电路上获得广泛的应用。光耦合器可分为非线性光耦和线性光耦。好坏判断：用数字万用表的二极管测量档，红表笔接光耦的“1”脚，黑表笔接光耦的“2”脚（即使光耦的发光二极管正向导通）此时万用表显示大约是0.981V，红表笔接光耦的“3”脚，黑表笔接光耦的“4”脚，此时万用表显示大约是0.700V，证明光耦是好的。工作特性：1、共模抑制比很高：在光电耦合器内部，由于发光管和受光器之间的耦合电容很小（2pF以内）所以共模输入电压通过极间耦合电容对输出电流的影响很小，因而共模抑制比很高。2、输出特性：光电耦合器的输出特性是指在一定的发光电流IF下，光敏管所加偏置电压VCE与输出电流IC之间的关系，当IF=0时，发光二极管不发光，此时的光敏晶体管集电极输出电流称为暗电流，一般很小。当IF>0时，在一定的IF作用下，所对应的IC基本上与VCE无关。IC与IF之间的变化成线性关系，用半导体管特性图示仪测出的光电耦合器的输出特性与普通晶体三极管输出特性相似。3、光电耦合器可作为线性耦合器使用：在发光二极管上提供一个偏置电流，再把信号电压通过电阻耦合到发光二极管上，这样光电晶体管接收到的是在偏置电流上增、减变化的光信号，其输出电流会随输入的信号电压作线性变化。光电耦合器也可工作于开关状态，传输脉冲信号。在传输脉冲信号时，输入信号和输出信号之间存在一定的延迟时间，不同结构的光电耦合器输入、输出延迟时间相差很大。

5，怎样检测光耦817

第一类型的光电耦合器，输入端工作压降约为1.2V，输入最大电流50mA，典型应用值为10 mA；输出最大电流1A左右，因而可直接驱动小型继电器，输出饱合压降小于0.4V。可用于几十kHz较低频率信号和直流信号的传输。对输入电压/电流有极性要求。当形成正向电流通路时，输出侧两引脚呈现通路状态，正向电流小于一定值或承受一定反向电压时，输出侧两引脚之间为开路状态。 　　测量方法： 　　数字表二极管档，测量输入侧正向压降为1.2V，反向无穷大。输出侧正、反压降或电阻值均接近无穷大； 　　指针表的x10k电阻档，测其1、2脚，有明显的正、反电阻差异，正向电阻约为几十kΩ，反向电阻无穷大；3、4脚正、反向电阻无穷大； 　　两表测量法。用指针式万用表的x10k电阻档（能提供15V 或9V、几十μA的电流输出），正向接通1、2脚（黑笔搭1脚），用另一表的电阻档用x1k测量3、4脚的电阻值，当1、2脚表笔接入时，3、4脚之间呈现20kΩ左右的电阻值，脱开1、2脚的表笔，3、4脚间电阻为无穷大。 　　可用一个直流电源串入电阻，将输入电流限制在10mA以内。输入电路接通时，3、4脚电阻为通路状态，输入电路开路时，3、4脚电阻值无穷大。 　　3、4种测量方法比较准确，如用同型号光耦器件相比较，甚至可检测出失效器件（如输出侧电阻过大）。 　　上述测量是新器件装机前的必要过程。对上线不便测量的情况下，必要时也可将器件从电路中拆下，离线测量，进一步判断器件的好坏。 　　在实际检修中，离线电阻测量不是很便利，上电检测则较为方便和准确。要采取措施，将输入侧电路变动一下，根据输出侧产生的相应的变化（或无变化），测量判断该器件的好坏。即打破故障电路中的“平衡状态”，使之出现“暂态失衡”，从而将故障原因暴露出来。光耦器件的输入、输出侧在电路中串有限流电阻，在上电检测中，可用减小（并联）电阻和加大电阻的方法（将其开路）等方法，配合输出侧的电压检测，判断光耦器件的好坏。部分电路中，甚至可用直接短接或开路输入侧、输出侧，来检测和观察电路的动态变化，利于判断故障区域和检修工作的开展。 　　测量时的注意事项：光耦器件的一侧可能与“强电”有直接联系，触及会有触电危险，建议维修过程中为机器提供隔离电源！

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